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JH60D永磁體霍爾效應(yīng)測(cè)試儀材料電學(xué)測(cè)量 霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性*的工具。

實(shí)驗(yàn)室測(cè)量?jī)x器 D30室溫探針臺(tái) 錦正茂D30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是*用的，探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。

JH60A霍爾效應(yīng)測(cè)試儀-半導(dǎo)體材料測(cè)量 該儀器為性能穩(wěn)定、功能強(qiáng)大、性價(jià)比高的霍爾效應(yīng)儀,在國(guó)內(nèi)高校、研究所及半導(dǎo)體業(yè)界擁有廣泛的用戶和度。

氣氛型高溫探針臺(tái) 半導(dǎo)體行業(yè)晶圓測(cè)試 快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測(cè)試，測(cè)試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。